STM32 HSE不稳定频率

我正试图在HSE的80mhz上运行我的核子f401re

intf4xxx:：clockInit（intpllm、intplln、intpllp、intpllq）
{
使能HSE（）；
//闪光
清除位（闪存->ACR，闪存ACR）；
FLASH->ACR&=~ FLASH\u ACR\u延迟；
FLASH->ACR |=FLASH | ACR | u延迟| 5WS | FLASH | ACR | ICEN | FLASH | ACR | DCEN | FLASH | ACR | PRFTEN；
//将HSE设置为PLL源
RCC->PLLCFGR=RCC\u PLLCFGR\u PLLSRC\u HSE；
//
RCC->CR&=~（RCC\U CR\U PLLON）；//更改前禁用PLL
//
RCC->PLLCFGR=pllM |（pllN1）-1）CFGR |=RCC_CFGR_HPRE_DIV1；//AHB=SYSCLK/1
//APB2预分频器2
RCC->CFGR&=~（RCC\u CFGR\u PPRE2）；
RCC->CFGR |=RCC_CFGR_PPRE2_DIV1；//APB2/1
RCC->CFGR&=~（RCC\u CFGR\u PPRE1）；
RCC->CFGR |=RCC_CFGR_PPRE1_DIV1；//APB1/2
RCC->CFGR&=~RCC\u CFGR\u SW；//重置SW0，SW1。
RCC->CFGR |=RCC_CFGR_SW_PLL；
碾压混凝土->碾压混凝土=碾压混凝土；
while（（RCC->CFGR&RCC\U CFGR\U SWS）！=RCC\U CFGR\U SWS\U PLL）；//等待切换到PLL（而PLL不用作系统时钟）
//省电
碾压混凝土->碾压混凝土和碾压混凝土；
返回0；
}
void F4xxx:：enableHse（）
{
//对于控制MCO2（PC9）：（频率=系统时钟/5）
RCC->AHB1ENR |=RCC_AHB1ENR_GPIOCEN；
GPIOC->MODER&=~GPIO\U MODER\U MODE9；
GPIOC->MODER |=GPIO_MODER_MODE9_1；
GPIOC->ospeder |=GPIO_ospeder_ospeder9；
RCC->CFGR |=RCC_CFGR_MCO2PRE；
RCC->CR |=（RCC_CR_HSEON）；//启用HSE
而（！（RCC->CR&RCC_CR_HSERDY））{}；//准备开始HSE
}

然后这样称呼它：

f4.clockInit（8336,2,7）；

但我的逻辑分析仪显示频率不稳定

电平=1的峰值具有宽度^-1=16 mhz 但是，电平=0的峰值具有宽度^-1=8 mhz和5.33 mhz

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是什么导致频率如此不稳定？

如果我没有弄错的话，您的逻辑分析仪屏幕截图来自Saleae软件。除非你有一个最新的型号使用USB 3，我猜你的采样频率限制在24兆赫最大。这也是基于FX2的廉价克隆的情况。基本上，您需要USB 3或内部缓冲内存，或者能够对减少的通道数进行采样，例如3个左右，以便采样速度超过24 MHz

你没有告诉我你的采样频率，但根据现有的信息，我假设它被限制在24兆赫。奈奎斯特采样定理规定，采样速度至少要比测量信号快2倍。因此，对于16MHz信号，您需要至少32MHz的采样率。在较低的采样频率下，您会观察到一种称为“混叠”的现象，即您测量的信号似乎具有较低的频率

请记住，32 MHz是理论上的最小值，您仍然可能（并且可能会）观察到信号中的失真。对于模拟信号，通常使用x10或x20采样率。对于像您测量的数字信号，x4可能很好

不久前，我不得不用Saleae克隆调试USB全速总线（12 MHz）。使用24 MHz采样率有时有效，有时无效。当它没有，我按下按钮，再次尝试我的机会

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所以，你可能一点问题都没有。由于设备的限制，您无法正确测量信号。当您重复测量时，可能会不时出现相同的采样问题。

采样频率是多少？请使用一个好的示波器并进行测量。@Tagli重新运行干净的构建后，问题似乎消失了。很可能是新构建修复了此问题。这只能解释，如果它是一个软件问题摆在首位。然而，我无法想象任何与软件相关的原因，为什么它会显示所描述的行为您尚未回答有关采样频率的问题。我使用Salae clone。他们承诺捕获高达100MHz的信号