Testing UEFI外壳下memroy测试中如何检测ECC错误

我编写了一个EFI二进制文件来测试UEFI外壳下的物理DIMM，过程非常简单-首先将测试模式写入物理地址，然后读取并与原始模式进行比较。 但是，DIMM可能会遇到可纠正或不可纠正的错误。正常情况下，所有可纠正的ECC将由硬件自动纠正，BIOS将对此进行处理（记录此错误并清除错误寄存器），不可纠正的错误通常会导致BIOS发出NMI，然后系统挂起

问题是我的测试程序不知道错误的发生-可纠正的错误被BIOS FW屏蔽，不可纠正的错误使系统挂起

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有没有办法让测试程序知道ECC错误的发生？如果您有任何建议，我将不胜感激。谢谢

我相信要做到这一点，您的程序将需要对硬件的最终控制。这意味着它需要完全启动并删除EFI环境

一旦这样做了，您的程序就可以处理指示ECC错误的所有中断和CPU寄存器

一旦完成，您的程序将进行软重置，这将引导系统返回EFI