Graphics 3D激光扫描仪捕捉法线？

我所在的实验室大学正在购买一台激光扫描仪，用于扫描3D物体。从一开始，我们就一直在努力寻找一种能够从实际扫描的表面捕捉真实原始法线的扫描仪。似乎大多数扫描仪只捕获点，然后软件插值以找到近似曲面的法线

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有人知道是否真的有捕捉原始法线的事情吗？是否有扫描仪可以做到这一点，而不从点数据插值法线？

不太可能。激光扫描是使用范围。你想要的是结合两种完全不同的技术。法线可以使用控制良好的照明等进行更高精度的评估，但需要非常不同的设置。还考虑采样问题：一个普通的分辨率比你的位置数据高多少？

< p>如果你已经知道组成3D对象的材料，那么你可以用A来比较测量的BRDF在一个点上。然后，通过将假设的BRDF与实际测量值进行比较，可以在该点单独优化计算的法线

诚然，这将是一项计算量相当大的任务。然而，如果您很少经历这个过程，那么它可能是可行的

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有关更多信息，我建议您与fame或NVIDIA联系。

您可以使用结构光+摄像头设置。

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法线将来自投影线和图像上位置之间的角度。正如其他海报所指出的那样，你不能用点激光扫描仪来捕捉原始法线。

几乎总是使用光度立体来捕捉原始法线。这几乎总是需要对基础反射率进行一些假设，但即使法线有点不准确，在将它们与另一个数据源组合时，也可以做得很好：

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结合点云（例如激光扫描）和曲面法线的代码非常好：

这里是一篇使用结构光从渐变重建法线的示例文章。

我没有找到我要找的确切的文章，但这似乎是基于相同的原则。

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在对象上变形后，您可以从条纹的角度和宽度重建法线。

只有当您有一个完美的镜面反射曲面，并且假设斯奈尔定律足以进行法线计算时，这才有效。然而，对于一些实际材料来说，“亮点”并不是斯内尔定律所能预测的确切位置。是的，但我认为这是最接近的。